二手 ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033T #9301385 待售

ID: 9301385
Wafer thickness gauge.
ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033T是一種多功能、高性能的晶圓測試和計量設備,設計用於處理大規模計量應用。該系統具有先進的特點,非常適合研發、制造自動化和實驗室分析。ADE Microsense 6033T配備了一個高精度的3D測量級,能夠容納直徑達200毫米的晶片。該單位還可以以0.02 µm為增量測量晶片的厚度。通過穩定平臺與專利晶片處理技術相結合,實現了晶片特性的高精度、快速測量。KLA Microsense 6033T采用五軸光學設計,允許在平面和扭曲基板上進行廣泛的測量。該工具與許多不同類型的掃描儀、光譜儀和其他光學儀器兼容。這使資產能夠測量各種特征,如晶粒尺寸、表面粗糙度、陣列保真度和電性能。憑借其提供精確、可重復測量的能力,該模型提供了性能和靈活性的無與倫比的組合。除了高質量的計量功能外,該設備還提供高級軟件功能來處理復雜的數據分析任務。該系統包括一系列軟件應用程序,允許用戶快速準確地確定晶圓的確切特性。該單元還有一個嵌入式數據分析和報告模板庫,可簡化基於晶圓測量結果生成報告的過程。TENCOR Microsense 6033T提供了簡單的設置和配置,因此用戶可以輕松快速地開始使用計算機。該工具還包括一個易於操作的用戶友好圖形用戶界面。此外,該資產還包括一個全面的用戶手冊、數據表和教程庫,以方便快速、順利地進入模型的功能。Microsense 6033T是一個創新的、高性能的晶圓測試和計量平臺,適合廣泛的應用。其先進的多種功能,加上易用性和卓越的精確度,使其成為實驗室和自動化制造環境的理想設備。
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