二手 ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033T #9301386 待售

ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033T是專門為先進半導體器件制造而設計的晶圓測試和計量設備，允許用戶根據可靠的結果做出快速的工程決策。該系統具有高吞吐量和精確度,掃描速度超過6000晶圓/小時。Microzense還提供完全自動化,允許操作員對常規過程和過程控制設置進行編程。該單元采用彩色共焦成像傳感器，與其他同類系統相比，可實現更好的聚焦精度和更高的分辨率。它還利用頂端相機技術檢測樣品晶片上的表面缺陷。ADE Microsense 6033T可以檢測各種類型的缺陷,如顆粒、位錯、裂紋、汙染物、蝕刻坑和加速壽命測試缺陷等。此外，機器通過電容傳感器支持晶圓厚度測量。傳感器精確檢測0.5mm至25mm範圍內的晶片厚度，使用戶能夠確保其晶片符合其規格。最後,KLA Microsense 6033T具有直觀的圖形用戶界面,便於工具導航和處理控制。用戶可以從主菜單中快速查看數據、生成報告和分析結果。此外,它還允許用戶定義的過程控制設置和報告生成,以便快速處理和分析數據。總體而言，TENCOR Microsense 6033T是一種先進的晶圓測試和計量資產，旨在簡化設備制造過程。它提供了一系列可能的缺陷的準確和詳細的數據，確保用戶的晶片質量得到維護。它的自動化設置和圖形用戶界面使該模型成為晶圓測試和計量的方便可靠的解決方案。