二手 ADE / KLA / TENCOR UltraScan 9600 #9193449 待售

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ID: 9193449
晶圓大小: 8"
Wafer metrology system, 8".
ADE/KLA/TENCOR UltraScan 9600是一種先進的晶圓測試和計量設備,用於半導體測試和制造過程。它結合了一系列尖端的檢測、成像和分析軟件包,提供了最高質量的測試結果。該系統設計為在晶片的測試和測量中提供最高水平的可靠性和準確性,其多功能性使其能夠用於多種基板上,包括矽片、復合半導體晶片和絕緣體上的復合半導體(SOI)晶片。ADE UltraScan 9600利用各種硬件和軟件組件來獲得盡可能最準確的結果。其晶圓測試和計量能力包括光學臨界尺寸、粒子表征、應力剖面、叠加、材料組成和光學剖面測量。然後分析這些測量結果,並將其用於識別和解決任何性能問題,這些問題最終可提高產品性能並實現優化。高級映像和分析軟件包使用戶能夠快速準確地分析其結果。該單元提供全面的缺陷檢測功能,包括激光陣列和缺陷檢測、靜態缺陷成像和動態缺陷成像。這允許檢測一系列缺陷,包括微觀和納米尺度的結構、顆粒、圖樣、缺陷和過程誘導的形狀。光學晶片檢查功能允許對整個晶片進行精確的可視化,並且使用先進的成像算法來分析兩種粒徑的比例及其在晶片整個表面的位置。KLA ULTRA SCAN 9600提供了與行業標準PC平臺的完全兼容性,允許用戶自定義其系統以滿足其特定需求。該機器還可以與現有的內部設備集成,允許用戶利用其現有基礎設施,以實現最高的效率和準確性。軟件組件提供詳細的報告功能,允許用戶存儲和共享測試結果,並且可以將報告導出到各種第三方系統以進行進一步分析。TENCOR ULTRA SCAN 9600工具為晶圓測試和計量提供了全面的解決方案,提供了無與倫比的準確性和可靠性。該資產具有廣泛的檢測、分析和成像功能,非常適合任何尋求優化其產品性能和產量的生產線。
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