二手 ADE / KLA / TENCOR UltraScan 9600 #9222305 待售

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ID: 9222305
晶圓大小: 8"
Wafer inspection system, 8" Ultra controller: Series 350 ARM controller 1/2” Floppy – 5 1/4” floppy High resolution probe Non-contact capacitive probe measurement Resolution: 10 um Microns wafer thickness range: 400 to 800 Capable of measuring: Lapped Etched Polished and patterned wafers Measures bow and warp Site and global flatness Thickness with res station System consist of: (2) Cassette input stations (3) Cassette output stations Pre-aligner station Hi-RES station E-PLUS Advanced / Thickness, B/W station Signal effector arm robot 9600 Power supply Non contact P/N type tester for wafer resistivity from 0.1 to 200 ohm-cm ADE 350 Arm controller Auto A probe ASC Controller.
ADE/KLA/TENCOR UltraScan 9600是一款先進的晶圓測試和計量設備,設計用於高性能和準確性。該系統提供亞微米缺陷檢測能力和較大晶圓容量。該設備配備27英寸的大型觸摸屏顯示器,為各種晶圓測試、檢查和計量應用提供了方便易用的界面。ADE UltraScan 9600采用了業界領先的缺陷分析技術,使用戶能夠以亞微米的精度檢測和表征缺陷。該機器的AutoDeck AutoTune TM自動校準技術可確保在多個晶片上獲得準確的測試結果。該工具還能夠一次處理一系列晶片,提供高吞吐量以提高產量和縮短周轉時間。KLA ULTRA SCAN 9600還配備了先進的舞臺控制資產,提供卓越的舞臺穩定性和隔振能力,從而減少來自模型的噪音,消除模塊與晶圓的串擾。此外,該設備還具有較高的抗振性和抗射頻性能,可實現更高的吞吐量和可重復的測試結果。該系統易於集成,使用戶能夠通過USB端口連接到PC和其他外部系統。振蕩函數通過調整搖籃中的晶片定位來確保高精度。此外,該單元還包括智能警報,用於提供漂移或損壞的早期預警,從而能夠快速準確地排除故障。TENCOR ULTRA SCAN 9600還有一個高級算法庫,支持一系列計量應用。這些算法包括晶圓表面粗糙度、厚度、線性和非均勻性的表征。這些算法可以檢測小尺寸變化並執行自動化數據分析,使用戶能夠做出更快、更準確的決策。UltraScan 9600還提供了廣泛的數據分析工具,包括自動可變性趨勢分析、排序和統計分析。這些工具有助於識別機器中有缺陷的部件,從而確保最大性能和可靠性。總體而言,TENCOR UltraScan 9600是一種功能強大且可靠的晶圓測試和計量工具。它為卓越的缺陷檢測和資產性能提供了先進的技術,其集成能力使其成為各種計量應用程序的理想選擇。
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