二手 ADE / KLA / TENCOR WaferCheck 7000 #9240724 待售

ADE/KLA/TENCOR WaferCheck 7000是一種先進的晶圓測試和計量設備，為尋求高精度和效率的制造商開發。ADE WaferCheck 7000專為測試和測量晶片基板的電性能而設計，如晶片電容、電感和電阻。KLA WaferCheck 7000采用了先進的視覺系統，能夠對晶片進行高效、準確的模式檢查。通過同時捕獲高分辨率圖像和3維數據，可以測量小至1微米的特征，精度為+/-3微米。該單元能夠檢查標準和定制的晶圓幾何形狀,如階梯式基板和平面配置。TENCOR WaferCheck 7000結合了各種電氣測試和計量工具，每種工具都有一臺自動校準機。該工具配備了高速AFM/STM，用於測量結電容、電感、電阻和翹曲。它有一個自動化的電氣探測站，用於晶體管、二極管、無源器件和其他組件的精確電氣測試。WaferCheck 7000還包括缺陷分析和屈服分析的綜合分析包。這一高性能視覺資產擁有3維數據捕獲，最大采樣率為每秒4500萬點。ADE/KLA/TENCOR WaferCheck 7000非常適合半導體制造商和需要快速、準確地檢查晶圓的制造商。它提供了一個快速、可靠和可靠的模型,可以改善過程時間和產品質量,確保高效和可靠的結果。