二手 ADE / KLA / TENCOR WaferSight PWG2 #9283347 待售

ADE/KLA/TENCOR WaferSight PWG2是一種最先進的自動化晶圓測試和計量設備,旨在最大限度地提高產量並降低成本。它是一個用於成像、測量和缺陷檢測解決方案的功能強大的系統,能夠以最少的人工實現快速而準確的結果。自動晶片測試和計量單元包括一臺光學顯微鏡和一臺圖像采集機，用於收集晶片及其結構的光學圖像，以及一臺用於快速尺寸測量的激光計量工具。顯微鏡包括多種物鏡來捕捉晶片的表面特征，包括晶粒、缺陷和其他地形特征。圖像采集資產由兩個激光傳感器和兩個光敏芯片組成，它們測量光學反射率的範圍，以獲得準確的數據。該模型還包括一個高級模式識別神經網絡處理器，它使用一系列算法自動檢查晶片的缺陷。神經網絡處理器能夠準確識別各種缺陷大小和位置。它還能夠為每個晶片提供廣泛的檢驗數據庫，可用於評估產品產量。ADE WaferSight PWG2的激光計量設備也涵蓋了廣泛的臨界維度，分辨率是傳統光學顯微鏡的兩倍。它還能夠通過「數字復制器」功能測量難以讀取的結構（如子像素特征邊）的精確尺寸,該功能以亞微米精度精確測量此類特征。自動化系統極其可靠,其正常運行時間高達99.7%,確保了一致的結果,這是其整體魯棒性的一部分。它也極易操作，需要最少的人工幹預來設置、操作和監控。該軟件提供了一個易於使用的圖形界面，用於設置實驗、查看成像和計量結果，並導出數據進行進一步分析。最後,KLA WaferSight PWG2是一個功能強大、可靠的自動晶片測試和計量單元,旨在實現例行圖像采集和測量過程的自動化。其非凡的準確性，加上低成本和最小的人工操作，使得這臺機器成為經濟高效的測試和計量的理想解決方案。