二手 AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 lite #293662145 待售

AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 lite是一種晶圓測試和計量設備，設計用於高速故障檢測和實時表面計量。該系統提供無與倫比的精度、準確性和速度,使用戶能夠放心地快速檢測和診斷晶片中的缺陷。Nanomap 8018 lite具有高精度xenetech操作掃描單元，提供晶圓表面的高分辨率3D映射，分辨率高達8µm。其龐大的吞吐量容量和快速的數據采集速率使用戶能夠在幾分鐘內快速掃描和測量多個晶片。該機集成了暗場、亮場、反向散射電子分析等多種測試方法，確保了晶圓缺陷的綜合分析。除了晶片的高分辨率3D圖外，該工具還提供了識別小劃痕、汙染、芯片粘合等缺陷的綜合故障檢測算法。算法使用機器學習模型來識別各類難以目測的缺陷。這有助於提高結果的準確性，並減少診斷故障性質的時間。此外,AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 lite還提供了一種先進的缺陷檢測算法,該算法可以識別可能一目了然的關鍵缺陷和非關鍵缺陷。此算法能夠提供有關每個檢測到的缺陷（如缺陷的大小、位置和材料）的其他詳細信息。這有助於確保確定和評估所有潛在缺陷,以評估對總體晶圓性能的影響。該資產還可輕松與清潔室中的其他設備和流程集成,如樣品冷卻、溫度和壓力控制或自動清潔流程。這使用戶能夠在短短幾分鐘內快速捕獲其晶片的概述、驗證缺陷並診斷其問題,從而確保更快、更高效的制造過程。Nanomap 8018 lite是客戶在晶圓測試和計量過程中尋求速度、精度和準確性的完美解決方案。憑借其高分辨率的晶片表面3D圖，先進的缺陷檢測算法，以及與其他設備和工藝的輕松集成，這一模型幫助用戶減少了診斷故障的時間，從而提高了晶片的質量和性能。