二手 AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D #293643450 待售

ID: 293643450
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) Reticle SMIF, 6" Dry pump Standing operator console SECS / GEM and HSMS Mini environment Optical microscope lens: FOV 450 FOV 6000 Power supply: 400-208 V, 3 Phase, 50Hz.
AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D是一種晶圓測試和計量設備,能夠充分表征晶圓圖樣的最佳特征。它使用獲得專利的直接寫入工藝技術,在晶圓基板上制圖高分辨率特征時提供無與倫比的精度和精確度。它專為滿足半導體和納米技術行業的要求而設計,為他們提供晶圓測試、檢驗和分析方面最先進的專業知識。AMAT Reticle NanoSEM 3D結合了許多功能,如高功率掃描電子顯微鏡和3D圖像重建系統,在納米級創建晶圓基板的詳細3D圖像。這為用戶分析晶圓上的高分辨率特征提供了無與倫比的精度和精確度。它還能夠對晶片和納米結構設備進行自動化測試,這對於確保設備性能和成本節約至關重要。此外,APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D還配備了全場分析儀,可以對晶圓的所有區域執行各種檢查和測量。它可以掃描微觀和納米級的缺陷,包括界面缺陷、晶體缺陷、線隙和電線故障。這種全場分析功能可幫助用戶快速識別可能導致故障、生產成本提高或產量下降的有害特性。Reticle NanoSEM 3D還包括一個超精確的計量單元,能夠以亞微米精度確定納米制造結構的精確尺寸。這樣就能夠系統地控制晶圓的加工和最小化產量損失。AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D還允許用戶使用三維成像來剖析深度。這使用戶能夠計算精確的深度輪廓曲線,從而定量評估過程控制。AMAT Reticle NanoSEM 3D是一種高度精密的晶片測試和計量機,在分析和設計晶片上的高分辨率特征時具有巨大的優勢。它是半導體和納米技術工業的關鍵工具,因為它在檢查和分析晶圓表面時提供了無與倫比的精度和精確度。
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