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晶圓測試和計量
AMAT / APPLIED MATERIALS
Reticle NanoSEM 3D
#293643450
二手 AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D #293643450 待售
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晶圓測試和計量
製造商
AMAT / APPLIED MATERIALS
模型
Reticle NanoSEM 3D
設備詳細信息
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ID:
293643450
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) Reticle SMIF, 6" Dry pump Standing operator console SECS / GEM and HSMS Mini environment Optical microscope lens: FOV 450 FOV 6000 Power supply: 400-208 V, 3 Phase, 50Hz.
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