二手 AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D #293744276 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D是一種高精度晶圓測試和計量設備，利用先進的掃描電子顯微鏡（SEM）技術，實現了集成電路開發的詳細3D成像、接觸測試和分析。該系統結合了專有的多探針、主動對準（MPAA）級和敏感射頻（RF）場發射源，無論試樣充電如何，都能提供極高性能的成像。MPAA級可在大小標線圖樣上提供高達子測距的分辨率,並允許用戶獲得最高的放大倍率,例如75,000X。這為構建的3D圖像提供了最高的尺寸精度,從而實現了卓越的設備開發。AMAT Reticle NanoSEM 3D還配置了先進的電子反向散射衍射（EBSD）檢測器，提供高對比度和低噪聲圖像。它能夠成像高長寬比特征,並提供卓越的對比度,即使放大倍數超過1000倍。高性能由經過半導體模式鑒定的機動化級保持,該級通過預定義的固定模式提供了卓越的精度,使各種測試模式能夠輕松準確地再現。此外,APPLICED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D還集成了經過驗證的信號調節和控制單元,以確保最高級別的信號放大、辨別和信號切換,從而提高晶圓測試精度。Reticle NanoSEM 3D是高級IC開發的重要工具。它結合了高分辨率成像、精確定位和電子反向散射探測器，是開發復雜電路和集成系統的寶貴資源。機器真正為先進的電子設計和測試提供一站式解決方案。