二手 AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #293668731 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D晶片測試和計量設備是晶片測試和計量的一種高度先進的工具。它被研究實驗室、半導體制造商和工藝工程師用來精確測量和表征半導體晶片、固態存儲器芯片和其他半導體器件的3維特征。AMAT VeraSEM 3D系統由多個組件組成，包括MetaSEM G4高分辨率SEM（掃描電子顯微鏡）低溫冷卻標本視圖、MetaSEM磁控濺射站和高分辨率光學顯微鏡。SEM利用電子束技術識別被檢驗晶片或器件的確切特征。MetaSEM G4高分辨率SEM冷凍試樣室提供了對試樣溫度和操作條件的精確控制。磁控管濺射站用於在成像之前將薄膜沈積到晶片上。高分辨率光學顯微鏡可以讓用戶準確檢查和測量樣品的地形和表面粗糙度。除了這些組件外，APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D還包括了多個先進的軟件和硬件系統，如立體分析單元、自動樣品準備機和模式識別軟件。Stereology Analysis Tool用於自動識別晶片的特征,如晶片上特征的大小、形狀和方向。自動化樣品準備資產使用戶能夠快速準確地準備樣品以進行成像。模式識別軟件用於識別模式，例如晶圓上二極管或晶體管的模式。VeraSEM 3D晶圓測試和計量模型是研究實驗室、半導體制造商和工藝工程師的寶貴資源。它提供了晶圓和其他半導體器件的快速、準確和可靠的測量和表征。憑借其先進的組件和軟件,AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D能夠識別晶圓的確切特征並快速準備成像樣品。該設備是半導體器件制造和檢驗的重要工具.