二手 AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #9145247 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D晶圓測試和計量設備是一種先進的系統,用於測量具有真實3D圖像的薄膜和集成電路過程。該單元將自主3D測量和分析技術與電子顯微鏡相結合，為半導體和無線行業帶來了新的數據精度和精度水平。AMAT VeraSEM 3D使用先進的電子顯微鏡測量集成電路中極薄的薄膜、缺陷和其他特征。這個過程提供了材料的三維圖像，以適應傾斜的特征壁和運動，這意味著更少的測量誤差和更精確的結果。通過對單個特征和結構的直接成像，降低了對復雜校準和參考點的需求，提高了機器的精度。APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D晶圓測試和計量工具的多功能性可用於故障分析、計量和過程控制等多種應用。它的創新設計使其能夠測量各種材料類型，包括現代FTIR、SPM和SEM系統中的材料類型。除了測量薄膜和集成電路，VeraSEM 3D還具有廣泛的追蹤能力，以確保隨著時間的推移準確的結果和測量。這是通過集成配置資產提供的,該資產允許直接從映像模型創建不同的可追蹤性元數據。AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D晶圓測試和計量設備是測量和分析薄膜和集成電路結構的有力工具。它將自主3D測量和分析技術與電子顯微鏡相結合，以精確和精確的方式產生高質量的3D圖像。它能夠測量各種材料,並提供可追蹤性功能,以確保長期的數據準確性和一致性。這使得它成為故障分析、計量和過程控制的強大工具。