二手 AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM #9200200 待售
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ID: 9200200
晶圓大小: 12"
優質的: 2002
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 12"
2002 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM是用於晶圓測試和計量的最先進的系統。它結合了高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM）和廣泛的自動化測量和成像能力。這使用戶能夠快速、準確地測量晶圓和模具特性,例如臨界尺寸、設備地形和各種電氣設備特性。AMAT VeraSEM還允許用戶快速表征興奮劑配置文件,並在各種樣本中對設備性能進行基準測試。APPLIED MATERIALS VeraSEM具有強大的設計和先進的功能,非常適合半導體器件開發和工藝表征。它提供了微電子元件的詳細表征，能夠以納米級分辨率和精度測量電氣特性。這使其成為半導體工業中設備故障分析和產量監測的重要工具。VeraSEM先進的成像能力以高分辨率SEM和電子束感應電流（EBIC）成像為特色，以實現模模比較。這有助於查明設備和單個晶體管缺陷,以便進一步分析。VerSEM還提供光譜成像功能,使用戶能夠進行到納米級的化學分析。此外，它的自動化測量能力在業界首屈一指。AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM能夠以其10納米的分辨率測量最小的特性，使其成為最好的晶圓探測解決方案之一。該系統還提供了一套高級軟件工具，包括自動模式識別和缺陷分類，從而改善了許多工程師和研究人員的工作流程。總體而言，AMAT VeraSEM是一個高度通用和復雜的晶圓測試和計量系統，提供詳細和準確的結果。其強大的成像和自動化測量功能使其成為半導體器件開發和工藝表征的寶貴工具。適用於故障分析、基準測試、臨界尺寸測量和電性能等多種應用。
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