二手 ASML YieldStar S100 #293625705 待售
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ASML YieldStar S 100是一種晶圓測試和計量設備,用於半導體器件的表征和分析。該系統具有先進的激光幹涉測量精密計量、高通量效率和先進的數據處理和分析軟件。ASML JIELDSTAR S-100利用紅外對準(IR-LAL)技術減少測試時間,將精度提高到± 10nm。該單元能夠測量晶圓結構上的二維和三維結構。它還利用了表面地形、線寬測量、粗糙度映射和缺陷成像等表面表征技術。YieldStar具有較大的動態範圍、出色的信噪比和高分辨率,使其能夠檢測晶圓結構中非常小的變化。它還具有在晶片上執行無損測試的能力,可用於快速檢測可能影響設備性能的非常小的過程更改。該機器還能夠提供詳細的報告和分析結果,從而能夠快速有效的決策。此外,還可以針對特定的應用程序需求定制報告。此外,廣泛的測量算法庫可以滿足詳細的精度要求,而無需進行廣泛的編程或校準。除了這些功能外,YieldStar還提供直觀的用戶界面和屏幕上的逐步操作說明。它還具有出色的遠程控制和數據傳輸功能,允許在異地存儲、分析和導出數據。總體而言,YieldStar S 100是一款高度先進的晶圓測試和計量工具,具有出色的準確性和吞吐量能力,以及直觀的用戶界面和廣泛的測量算法庫。是半導體器件表征和分析的理想解決方案。
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