二手 ASML YieldStar S200 #293636291 待售

ASML YieldStar S200
ID: 293636291
Overlay measurement system.
ASML YieldStar S200是為半導體工業設計的晶圓測試和計量設備。它能夠處理300/200 mm晶片,是用於晶片缺陷計量和檢驗的手動測試系統。該單元采用高速算法對晶圓表面進行全面分析。機器的硬件結構使其能夠檢測和評估晶圓表面的納米級缺陷。該工具采用各種光學技術,如:反射測量幹涉測量、輪廓測量、光應力測試和數字數量反饋分析。它具有先進的自動化功能測試、統計過程控制(SPC)和診斷功能,可提供快速可靠的測試。該資產擁有創新的用戶友好界面,采用高速視頻圖像處理器設計,提供先進的信號處理能力。它配備了先進的模型控制,包括運動控制算法、信號處理、質量控制和操作管理。該S200有一個內置的晶圓對準和校準設備。該系統還包括一個專有的測量頭和一個校準階段,以提供精確的測試結果。該單元的非接觸式光學測量能力為各種具有挑戰性的應用提供了準確和可重復的結果,包括晶圓映射和計量、缺陷位置分析和晶圓分析。機器的自動調整功能使其能夠根據實際數據調整測量參數,以獲得最佳的過程吞吐量。此外,該工具還有一個軟件套件,用於質量控制、設備表征、缺陷檢測和表征方面的各種應用。ASML YIREDSTAR S 200是為滿足半導體行業的高需求而設計的可靠資產。它旨在提供準確、可重復的測試結果,並且能夠處理各種晶圓。它能夠生產當今市場所需和期望的高質量晶片。
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