二手 ASML YieldStar T-200C #293667079 待售

ASML YieldStar T-200C是為半導體應用而設計的晶圓測試和計量設備,提供精確的空間分辨率和圖像質量。它提供了臨界晶片參數的精確測量，如模具尺寸、形狀、厚度、電阻率和組成。它是一種通用工具，可以測量各種各樣的晶圓結構，包括MEMS和高級封裝元件。YieldStar T-200C配備了先進的掃描模式成像系統，采用電荷耦合器件（CCD）檢測器的直線/像素導向陣列和先進的光學設計。這種光學設計最大限度地提高了晶圓測量的分辨率和精度。設備能夠4K-9K分辨率,具體取決於所需響應數據的類型。該機器還設有一個自動測試站。該站用於檢索和分析測試結果中的數據，如邊緣放置、光刻、層厚度和電阻率。用戶可以控制測試站點的數量和進程設置，以調整工具以適應不同類型的晶圓。ASML YieldStar T-200C提供全自動操作和自動校準程序,以實現最大精度。它具有基於Windows的用戶友好圖形用戶界面,可輕松校準、測量和分析測試結果。資產還包括圖像穩定功能，使晶圓振動或熱膨脹和收縮造成的圖像失真最小化。該模型是為工業生產環境設計的，包括廣泛的環境監測設備，以確保最佳性能。該系統配備了先進的質量保證套件，其中包括內置的單元診斷、環境測試和自動校準功能。機器還配備了數據記錄工具，記錄所有測試結果和數據以進行追溯。為了確保最大精度，資產擁有內置的測試算法，以確保精確的測試結果。該模型具有菜單驅動的軟件設置,允許用戶自定義數據采集過程以滿足其特定要求。此外，設備還設有內置庫，預定義測試程序，以提高生產效率。