二手 ATI WIND AWIS-1200 #293654341 待售

ATI WIND AWIS-1200是一種晶片測試和計量設備,用於識別和測量晶片尺寸不超過300 mm的半導體結構、模式和缺陷。在任何一種環境條件下，它對檢測缺陷和測量零件的尺寸、形狀和結構都具有可靠的可靠性。AWIS-1200具有12Mega像素CMOS傳感器、實時數字信號處理、高速圖像采集、數字圖像信號處理和三級智能檢測系統。12 Mega Pixel CMOS傳感器可實現高分辨率圖像,高速捕獲晶圓上的詳細圖樣。實時數字信號處理有助於減少光噪聲、帶狀和其他類型的像差。這是可能的，因為各種信號處理功能被集成到具有高度集成線路和像素緩沖區的單個芯片中。數字圖像信號處理的優點包括自動增益和自動快門控制、像素響應不均勻校正和伽馬校正。這些有助於改善圖像質量並顯著減少檢查時間。該AWIS-1200能夠以很高的精度和速度測量亞微米圖案的寬度和長度。這是由它的3級檢查單元完成的，該單元由顯微鏡、幹涉儀、橢圓儀和光譜儀組成。該顯微鏡用於評估一般表面、用於測量高精度特征的幹涉儀、用於測量表面地形和薄膜的橢圓儀以及用於材料光學分析的光譜儀。這允許對零件進行準確的評估,並允許機器識別晶片上的缺陷類型,如礦坑、溝槽、臺階和其他缺陷。該AWIS-1200具有直觀和用戶友好的界面以及用於控制和分析測量的高度先進的軟件。該軟件專門為包括顯微鏡、幹涉儀、光譜儀和橢圓儀設計。它既適合先進用戶，也適合新手用戶，能夠快速準確地測量即使是最復雜結構的特性。該軟件還能夠自動收集和處理數據，從而提高測量的效率和準確性。總體而言，WIND AWIS-1200是一個極好的晶片測試和計量工具，提供高精度分析和缺陷檢測，從晶片到300 mm的大小。其先進的特性和靈活性使其成為各種應用程序的理想選擇。