二手 AXIC 100 II #62113 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
![AXIC 100 II 圖為 已使用的 AXIC 100 II 待售](https://cdn.caeonline.com/images/axic_100-ii_95011.jpg)
![Loading](/img/loader.gif)
ID: 62113
晶圓大小: 8"
XRF thin film measurement system, 8"
WDX and EDS spectrometers
Configured for Wt% P in PSG.
AXIC 100 II是一種先進的晶圓測試和計量設備,旨在提供強大的晶圓上測試能力。該系統采用高性能探測和計量技術,對電氣和物理參數進行高精度、準確和可靠的測量,使用戶能夠獲得最佳結果。它非常適合各種類型的晶圓測試,如晶圓映射、缺陷測量和設備表征,使用戶能夠開發出可靠高效的產品。100 II通過其集成的TruSem模塊提供各種參數的精確和快速測量,該模塊具有非常高分辨率的3D輪廓掃描儀和全自動的本地計量單元。TruSem使用戶能夠輕松測量臨界物理特性,如表面粗糙度、蝕刻深度、間距和浮雕。這臺機器還包括一套強大的高級軟件工具,允許用戶創建復雜的配置文件並執行更詳細的測量。AXIC 100 II還包括一個集成的參數化探測平臺,提供超靈敏電容測量和快速開爾文測試能力。這使用戶能夠準確、快速、輕松地測量材料和設備的物理和電氣性能。該工具還配備了先進的模模叠加技術,有助於優化設備叠加性能。最後,用戶友好、直觀的軟件環境讓用戶可以輕松配置資產,並獲得更快、準確的結果。此外,100 II的圖形界面被很好的采用,使模型非常容易為用戶導航。AXIC 100 II具有先進技術和可靠性能的強大組合,是任何晶圓測試和計量需求的絕佳選擇。
還沒有評論