二手BRUKER(晶圓測試和計量)待售

布魯克是晶圓測試和計量系統的領先制造商。它們提供了一系列具有先進特性和優點的類似物，可用於精確高效的晶圓測試。一種流行的模型是NP Flex系統，它為薄膜表征提供無損檢測。該系統使用光譜橢圓偏振法來測量像薄膜厚度、折射率和粗糙度這樣的參數。它提供高速數據采集和全面的分析能力，使其非常適合研發目的。另一個值得註意的系統是輪廓GT-X8，它是一種通用的表面計量光學剖面儀。采用白光幹涉法測量亞納米分辨率的地表地形。輪廓GT-X8可以精確測量薄膜厚度、臺階高度、表面粗糙度和其他表面特征,使其適用於包括半導體制造、MEMS設備和光學表面在內的廣泛應用。對於深紫外光刻，布魯克提供了DUVX210的計量系統。該工具為先進的半導體制造工藝提供了關鍵尺寸和叠加計量。它使用成像技術和先進算法,以卓越的精度測量關鍵尺寸和叠加精度,從而實現更嚴格的過程控制和提高設備性能。布魯克的晶圓測試和計量系統因其準確性、可靠性和先進特性而備受推崇。這些系統通過實現質量控制、工藝優化和產量提升，在半導體制造、研究和開發中發揮著至關重要的作用。Bruker產品種類繁多,滿足了半導體行業的多樣化需求。