二手 BRUKER-AXS Dektak XT #9204115 待售

BRUKER-AXS Dektak XT是為各種應用而設計的先進晶圓測試和計量設備。該系統能夠分析2「到8」的晶片厚度、平滑度、粗糙度、電導率、介電擊穿和其他表面測量。BRUKER-AXS DEKTAKXT利用自動化平臺提供了獲得專利的恒力模式,可確保在目標力的0.25%內進行一致和可重復的測量。綜合視覺單元對晶片進行檢查，確保其在分析前後水平，確保結果的準確性。機器可以配置各種選項，包括光學顯微鏡、自動晶圓處理和晶圓映射功能。Dektak XT工具具有直觀的圖形用戶界面（GUI）,易於操作和自動化。它還包括PC上的高級數據處理、圖形和報告功能。基於PC的軟件易於使用,並提供全面的分析功能,包括顛簸、顆粒和塗層的分析。此外,DEKTAKXT的ANOVA、FFT、3D繪圖和振動補償技術提供了廣泛的測量功能。ANOVA技術可用於分析晶片邊緣輪廓，而FFT技術則用於分析光譜數據。3 D繪圖技術用於晶圓形狀的評估，振動補償技術允許精確測量，即使晶圓振動也是如此。該資產非常適合廣泛的晶圓測試和計量應用,如應力測試、缺陷分析和過程控制。BRUKER-AXS Dektak XT也適合質量控制和研發使用。總之，BRUKER-AXS DEKTAKXT是一種先進的晶圓測試和計量模型，設計用於多種應用。該設備采用創新技術,具有用戶友好的GUI,具有廣泛的高級測量、分析和處理功能。