二手 BRUKER-AXS Dektak XT #9237895 待售

BRUKER-AXS Dektak XT是一種高精度、多用途的晶圓測試和計量設備，設計用於測量包括半導體晶圓和電路板在內的各種表面的地形和輪廓。這個晶圓測試和計量系統配備了一個高分辨率、低噪聲共焦拉曼成像模塊，能夠在組成、晶體學取向和厚度分布等方面分析廣泛的樣品。顯微鏡具有自動Z軸聚焦裝置，用於獲取分辨率高達5nm的樣品的地形圖像。此外,它還支持各種樣品定位設備,包括電動x-y-z級和旋轉級,為精確的樣品探測提供了靈活性和準確性。BRUKER-AXS DEKTAKXT還具有多種表面分析技術，如輪廓和臺階測量、表面粗糙度測量、峰值/槽定、3D輪廓折射和單層分析。它配備了廣泛的探針，包括納米機械探測機、表面剖面儀、光學剖面儀、測量表面力特性的原子力顯微鏡（AFM）和光譜反射儀。此外，它還支持用於非接觸表面表征的集成幹涉光學顯微鏡，提供高達實際尺寸和亞微米分辨率200倍的樣品放大倍數。Dektak XT還提供多種測量功能,例如特征尺寸測量、臨界尺寸確定、線寬測量、中心線測量和粒度/表面光潔度測量。此外,此晶圓測試和計量學工具附帶多個軟件包,例如AnalYS軟件,它使您能夠同時測量3D和2D示例曲面、遠程技術控制軟件包以及點過濾器庫。總體而言,DEKTAKXT是一種先進而可靠的晶圓測試和計量資產,使研究人員和工程師能夠準確測量各種曲面的地形和輪廓。其最先進的技術結合靈活的樣本定位設備和專門的軟件包,為所有類型的表面分析提供了最高水平的準確性和可重復性。