二手 BRUKER NANO DektakXT #293653435 待售

BRUKER NANO DektakXT是一個最先進的晶圓測試和計量系統，設計用於半導體制造操作的最佳性能。它能夠為許多應用提供準確和可靠的測量，例如半導體過程控制和分析、過程開發和故障分析。DektakXT結合了板載CCD相機和數字信號處理器（DSP），用於高分辨率的光學測量。利用這些組件,BRUKER NANO DektakXT能夠對晶圓表面上的各種特征進行精確、可重復的測量。它可以測量線條、溝槽、vias、顛簸和其他特征，無誤差精度為0.1µm（0.000004"）。測量結果有四種模式：分割、測距、成像和探測.此外,DektakXT的電動XY級允許全自動掃描和可重復測量。BRUKER NANO DektakXT與業界認可的SmartScout軟件包集成。該軟件便於設計路徑,並優化工藝參數以提高產量和成本效益。它還通過全面的統計數據分析深入了解流程性能。總體而言，DektakXT是一個非常可靠的晶圓測試和計量系統。其低噪聲操作和高分辨率測量為當今要求苛刻的半導體行業提供了可靠的解決方案。該系統效率最高，非常適合高精度、低成本的生產和測試。采用板載CCD攝像頭和DSP,提供了無與倫比的精度和精確度.此外,SmartScout軟件還允許優化過程參數和深入的數據分析,以提高性能。