二手BRUKER / SLOAN DEKTAK(晶圓測試和計量)待售

BRUKER/SLOAN DEKTAK提供的晶圓測試和計量設備在半導體行業備受推崇。這些系統為晶圓表面粗糙度和薄膜厚度提供了全面的分析和測量解決方案。BRUKER/SLOAN DEKTAK單元的一個顯著優勢是其高精度和精確度。這些機器利用手寫筆輪廓測量和白光幹涉測量等先進技術來捕捉晶圓表面的精確測量。這種準確度保證了過程控制和質量保證的可靠數據。BRUKER/SLOAN DEKTAK提供了一系列的模型來滿足不同的需求。例如,NT 3300是一個通用系統,它能夠以亞納米分辨率對高度、粗糙度和薄膜厚度進行非接觸式測量。另一方面,XT系列為薄膜、步高和其他臨界測量提供了高級輪廓測量。IIA系統設計用於高速串聯晶圓檢測，為生產環境提供實時分析。這些工具在各個行業都有應用，包括半導體制造、MEMS制造和材料研究。它們提供快速、準確的測量,幫助公司簡化流程,提高產品產量,並確保晶片的完整性。BRUKER/SLOAN DEKTAK的晶圓測試和計量資產是半導體行業質量控制和工藝優化的可信工具。