二手 CAMECA Lexfab 300 #9151709 待售
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CAMECA Lexfab 300是一種先進的晶圓測試和計量設備，設計用於分析各種晶圓模式、結構和材料。系統直觀的軟件引導工作流使晶圓測試和計量能夠快速、準確、輕松地執行。CAMECA LEXFAB300是一個可擴展的高性能單元，具有從基本計量到納米尺度的晶圓分析能力。這臺機器配備了多種工具來監控和測量晶片，如光學成像、X射線成像、暗場和明場顯微鏡、差分幹涉對比度顯微鏡以及主板掃描功能。該工具能夠檢測小到150納米大小的特征。LEXFAB-300的一個主要特點是其4軸對齊資產。模型的機動對齊表可以精確設置和調整視角，允許在不同方向進行精確的圖像分析和晶圓測試。這種靈活性使用戶能夠用不同角度的不同芯片和晶片進行各種各樣的實驗。Lexfab 300設計方便用戶,使用戶可以快速了解設備的操作情況。該系統還包括多種軟件包和分析工具，方便地分析磁盤圖像，包括缺陷識別、特征檢測以及針對某些IC的特殊對策。憑借這些特點，CAMECA LEXFAB-300是監測和檢查晶片以及提供有價值的生產計量數據的絕佳解決方案。在安全維護方面，該單位包括了一系列安全功能，以確保人員的保護，包括緊急開關和自動安全關閉功能。此外,CAMECA還實施了一系列維護程序,以確保LEXFAB300臺機器保持峰值狀態,並始終提供準確的數據。CAMECA Lexfab 300被半導體和顯示器行業的領先制造商廣泛采用，他們正在尋找一種可靠且易於使用的晶圓測試和計量工具。CAMECA LEXFAB300憑借其全面的功能和廣泛的測試能力,非常適合希望確保晶片準確性和可靠性的公司。
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