二手 CDE RESMAP 178 #293639677 待售

CDE RESMAP 178是一款功能廣泛的最先進的晶圓測試計量設備，非常適合半導體晶圓計量和工藝監控的應用。其強大的成像能力使晶圓級特性和參數的精確測量具有優異的效果。該系統包括一個78通道電子束（EB）柱與亞納米分辨率。這與高分辨率、高靈敏度、CCD相機相結合，能夠檢測半導體晶圓表面甚至微妙的變化。這使得它成為測量各種參數如蝕刻深度、幾何形狀、輪廓特征、圖案和摻雜特征等的有效工具。該單元還設有一套全面的計量工具，如輪廓映射、邊緣檢測、星號分析、SEM成像和參數化。這些工具旨在檢測和測量最小的曲面特征,並幫助操作員識別工藝趨勢。除了先進的成像能力外，該機還提供一系列用戶友好的控件和功能。其中包括手動和自動控制測量參數、支持各種對齊系統、多個坐標系、可定制的顯示參數以及自動數據日誌記錄。總體而言，CDE RESMAP178晶片測試和計量工具為晶片過程監測和缺陷分析提供了強大的平臺。其對焦深度、半自動圖像比較和其他功能的配置使其成為尋求改進晶圓級計量能力的半導體制造商的理想解決方案。