二手 CDE RESMAP 178 #293809836 待售
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ID: 293809836
晶圓大小: 6-8"
優質的: 2003
Four-point probe system, 6-8"
PC
Monitor
Cabling
Operating system: Windows XP
2003 vintage.
CDE RESMAP 178是一種高性能晶圓測試和計量設備。它被設計用於需要對各種多層平面和輪廓結構的高度精確的臨界尺寸和地形相關參數進行極其快速的測量的應用。該系統采用剖面圖和漫射反射技術，提供高度可靠的計量結果。CDE RESMAP178單元具有專有的光學平臺,具有更高的分辨率和準確性。它使用4倍減量機,可確保極其精確的測量,並具有出色的重復性。該工具配備了功能強大的自動對齊資產（AAS）,可以可靠地確定樣品的位置和方向,從而使最復雜的晶片可以更快地進行測試。此外，該模型還配備了參考樣本庫，以便於驗證和測量不同類型的材料和結構。設備可針對各種類型的測量進行校準，如x、y、z軸、反射激光強度和臨界尺寸（CD）。該系統還可以用集成計算機控制的Wafer-In-Place測量單元（WIPMS）進行定制，該單元允許同時測量復雜的晶圓。RESMAP 178機器先進的光學結構能夠精確地測量使用高質量聚焦和速度校正系統測量的納米特性。此外,該工具還可以測量超精確特征（如溝槽、臺階和空腔）的臨界長寬比和公差。該資產還擁有具有圖形用戶界面（GUI）的高級用戶界面,以便於實施自定義測量規範。此外，它還能夠同時控制多個系統，允許更高效的測試晶片方式。簡而言之，RESMAP178晶圓測試和計量模型是一個全面、通用的解決方案，用於對不同類型的材料和結構進行快速、可靠和準確的測試。設備先進的光學平臺、自動對準系統、參考樣本庫和圖形用戶界面使其成為滿足您所有晶圓測試需求的理想選擇。
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