二手 CDE RESMAP 178 #293832078 待售

CDE RESMAP 178是一種晶圓測試和計量系統,旨在對各種工藝節點大小上的各種結構進行高度精確的測量。該系統配備了多種光學和X射線成像技術，包括虛擬顯微鏡光刻（VML）、X射線衍射（XRD）、透射電子顯微鏡（TEM）、原子力顯微鏡（AFM）、掃描電子顯微鏡（SEM）。這些技術中的每一種都允許對晶片或基板的結構進行精確分析，使用戶能夠評估其設計的準確性或定位缺陷或異常。VML利用基於光的成像創建晶圓的三維圖像，可以檢測整個表面高度和寬度的變化，以及非常小的特征，如隔離的線條或通道。這項技術比光學顯微鏡更能準確地確認圖樣和驗證厚度。XRD用於識別晶體結構、厚度和組成。通過XRD,用戶可以評估材料的質量及其對不同工藝條件的響應。TEM和SEM是兩種基於電子的成像技術，以極高的分辨率探索基板表面。TEM有助於識別基板的結構和形態，而SEM允許用戶以非常高的放大倍率捕捉表面的圖片。AFM提供地形和表面特性的測量,如摩擦、粘附和彈性.多功能一體CDE RESMAP178系統結合了多種光學和X射線成像技術，旨在提供高精度的計量解決方案。它是表征多種基板結構的寶貴工具，用於制造計算機芯片、太陽能電池和其他微技術。