二手 CDE RESMAP 178 #9151440 待售

CDE RESMAP 178（Recontored Edge Mapping）是一種專門的晶圓測試和計量設備，用於提供高度精確的晶圓邊緣輪廓測量。該系統使用表面波幹涉測量和掃描激光測距技術掃描和繪制晶圓輪廓，然後用於確定邊緣斜角、側壁角、晶圓的整體平面度或其他各種表面特性。CDE RESMAP178能夠在晶片的整個輪廓上測量多達400萬個點,分辨率高達10微米。它還可用於詳細的微加工應用，這需要精確測量晶圓邊緣，以確保產品的質量一致。此外，該單元還可以測量薄膜層在晶片表面如介電層和電阻層的沈積。RESMAP 178還得益於自動掃描頭等功能,它使用戶能夠快速繪制整個表面或以更高的精度和準確性測量特定區域。此外,自動化軟件計算機還處理所有必要的掃描設置,允許用戶調整掃描參數或回憶以前收集的數據。該工具非常高效,可以在幾分鐘內完成掃描。不僅如此,它還具有極高的靈活性和安全性,因為數據安全地存儲在HDD中,而不是存儲在安全的服務器中。這對於需要維護安全數據完整性和備份的任何業務都是理想的選擇。總體而言,RESMAP178是任何需要精確邊緣輪廓測量和微加工操作的應用程序的理想晶圓測試和計量資產。它結合了自動掃描頭、精確的分辨率和安全的數據存儲功能,使其成為一個功能強大且可靠的度量模型,可用於查找晶圓表面上的確切缺陷。