二手 CDE RESMAP 273 #293778134 待售

CDE RESMAP 273是一種最先進的晶圓測試和計量設備，設計用於分析和評估電子材料和設備。系統同時對任意數量的樣本執行多個測試和計量操作。它適用於直徑小於8英寸的晶片,並且能夠測試低至32 nm的特性。該裝置采用專門的四軸刀架，安裝在一對彎曲磁鐵粒子束系統上。此設置可確保在檢查和測量樣品時具有高分辨率和準確性。粒子束系統裝有探測器、透鏡和鏡子等光學元件，可用於進行X射線熒光、衍射和散射測試。光學元件配有電動控制機，使操作員能夠輕松調整激光功率、光束對準等儀器參數。此外,電動工具還具有一個功能,使其能夠省略最常用的現貨尺寸校正。資產還有一套計量操作工具。這些功能包括納米掃描（低於100 nm分辨率）、光譜學（用於測量光吸收和機械應力）和顯微鏡成像（用於檢測地形特征）。測試和計量操作的結果可以通過隨附的軟件進行分析。此軟件提供數值和圖形分析以及數據導出功能,使用戶能夠進一步評估其樣本。它具有直觀的用戶界面，易於學習曲線，確保用戶能夠快速學習並熟練掌握模型操作。此外，大多數實驗室很容易獲得這種設備，因為它只需要極少的維護。總體而言，RESMAP 273是為研究實驗室設計的先進晶圓測試和計量系統。其精密的操作工具和精確的分析能力使其成為詳細分析和評估電子材料和設備的完美工具。