二手 CDE RESMAP 273 #293799962 待售
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ID: 293799962
晶圓大小: 12"
4-Point probe tester, 12"
Type: Manual
Probe head: Type A
Ceramic pad: 25 x 25 mm
Controller
Test unit
Maximum round sample: 12.2"
Square sample: 8.5" x 8.5"
Throughput: 1 Min
Measurement range: 2 mΩ to 5 mΩ
Accuracy: <±0.5%
Minimum edge exclusion: <1.5 mm
Mapping patterns:
Polar map
Rectangular map
Line scan
Plots:
Contour
3-D Line
Data map
Histogram
Data sequence
Radial
Angular distributions
Trend chart
PC:
Hard Disk Drive (HDD): 40 GB
CD-ROM
Color monitor
Color inkjet printer
Operating system: Windows 98
AC Power: 100-240 V, <10 kVA.
CDE RESMAP 273是一種晶圓測試和計量設備，設計用於半導體行業的精確、高通量晶圓測試和測量。該系統包括一個集成、高精度、高速的自動化平臺，用於晶圓的在線測試、計量和分選。該裝置采用非接觸式激光掃描技術，對晶圓參數進行精確測量。激光掃描機結合了高速數據采集工具和共線性雙束激光配置。這種配置允許對被測晶片的輪廓進行快速而精確的測量，同時捕獲測試樣品表面地形、縱向特性和其他特性的數據。RESMAP 273還包括一個自動模式識別資產，這使得能夠快速和準確的測試和分類。該模型使用現場可編程邏輯陣列處理器，允許定制測試和排序算法。通過與計算機視覺設備的集成，系統能夠以高度的準確性和可重復性自動識別測試結果。CDE RESMAP 273還配備了廣泛的計量工具。這些包括高分辨率顯微鏡、微射線照相系統以及用於測量厚度、曲率、折射率和其他臨界晶圓特性的白光幹涉儀。該單元還包括一套用於執行精確測試的功能強大的信號分析儀。最後，該機器提供了一個直觀的用戶界面和軟件工具來管理和分析測試數據。該軟件允許用戶快速方便地訪問測試結果，將數據導出到其他系統，並生成實時測試報告。使用RESMAP 273,用戶可以輕松快速地評估晶片的性能,並根據需要快速采取糾正措施。
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