二手 CHAPMAN MP2000+ #9207198 待售

CHAPMAN MP 2000+是由CHAPMAN Instruments設計的先進晶圓測試和計量平臺，用於多個行業。這個用途廣泛的平臺可以用來測試和測量範圍廣泛的晶圓尺寸、厚度、表面指數和傾斜角，使其成為現代半導體制造過程中不可或缺的一部分。MP 2000+設備基於CHAPMAN著名的MAPLE™平臺,提供可靠、快速和可重復的晶圓測試和計量。該系統旨在快速、準確地測量各種晶圓特性和參數。該單元能夠測量光學、電氣和機械性能，包括厚度、表面指數、摻雜水平和傾斜角。CHAPMAN MP 2000+的最低開銷時間少於10秒，能夠在單批運行中測試多達18個矽片。機器還經過預先校準，可以使用，不需要任何額外的校準步驟。MP 2000+具有采用PCI-Express技術的高速接口，使得工具和其他儀器之間能夠快速的數據傳輸。此外，該資產由硬化的鋁制框架構成，旨在承受高振動頻率，使其能夠在沖擊程度高的環境中使用。該平臺還采用了CHAPMAN專有SixtyEqualizer™技術，可提供極其精確的自動測量，而無需手動校正或調整。這樣可以確保結果始終準確、可靠且可重復。此外,該平臺還具有其他幾個高級功能,包括自動拆分、拆分診斷和直觀的菜單驅動用戶界面。CHAPMAN MP 2000+被設計為提供卓越的性能和可靠性，即使在最苛刻的半導體制造環境中也是如此。該模型易於操作,並提供確保最大產量所需的高精度、可重復性和成本效益。