二手 CHAPMAN MP2000+ #9361806 待售

CHAPMAN MP 2000+是一種先進的晶圓測試和計量設備。它旨在精確地測量和表征晶圓上的亞微米特征，以及提供各種其他必要的測量和測試。該系統完全自動化，集成了最先進的成像、計量和樣品處理系統。超精密的高級運動平臺可以快速準確地表征各種基板上的微小特征，包括光掩模和晶圓。MP 2000+利用4軸定位級，將測量坐標快速準確定位在晶圓頂部。這個驅動單元由幾何和覆蓋的光柵刻度驅動，允許對晶片進行極精確的對準和定位，用於每個單獨的測量。激光幹涉儀用於為XYZ定位級機提供精確的位置反饋和制動校正，使每次測試都能實現亞微米分辨率和重復性。該工具還包含高分辨率顯微鏡成像資產，使用戶能夠實時可視化晶片上的特征，詳細了解晶片的布局和結構。顯微鏡的CCD相機檢測從晶片表面發出的光，並在顯示器上顯示圖像，以便立即查看和操作。此外，CHAPMAN MP 2000+有一個強大的20W激光幹涉儀，用於測量、縫合和測量微結構。這種強大的檢測模型確保了每次測試的最高精度，允許對晶圓上的特征進行亞微米檢測和分析。此外,內置的20W激光激發設備允許用戶檢測和測量其他表面特征,如顛簸、劃痕或腐蝕。最後，該系統具有高速數據采集和處理功能，具有直觀的圖形用戶界面和內置的分析工具。這為用戶提供了即時結果，允許對晶圓性能進行詳細的過程控制和實時洞察。綜上所述，MP 2000+是設計用於半導體制造的功能強大的晶圓測試和計量單元。它集成了先進的運動、成像、計量和樣品處理技術，用於最精確的晶圓測量。激光激發和幹涉儀系統提供了無與倫比的精度和分辨率，而數據采集和圖形用戶界面則實現了即時測試結果和實時過程控制。