二手 CHAPMAN MP2000+ #9394595 待售

CHAPMAN MP2000+
ID: 9394595
Surface profilers.
CHAPMAN MP 2000+是CHAPMAN Engineering開發的一種先進的計量和晶圓測試設備,用於半導體行業的廣泛應用,如晶圓測試、樣品監測和實驗室研究。該系統提供了一種高效的高分辨率解決方案,用於測量半導體晶片在制造過程中的特性。該單元由一個完全自動化的階段結合復雜的硬件和軟件組件組成。它還包括用於精確圖像捕獲的高分辨率CCD傳感器。該機器具有強大的圖像處理功能,可提供卓越的測試結果。它配備了高速電動晶片卡盤,以確保精確的樣本映射、對準和對準。除了這些特性之外,該工具還得益於先進的軟件算法,以允許對多個樣本類型進行精確的計量和晶圓測試。MP 2000+的設計是為了抵禦困難的環境條件,包括溫度波動、濕度和空氣汙染。這確保了在現場和生產環境中的可靠采樣。資產的大工作區域使得它非常適合甚至最苛刻的晶圓測試要求。該模型配備了先進的掃描軟件,其中包括3 D邊緣檢測、粒子圖像分析功能以及強大的統計分析工具。這允許對數據進行詳細分析,以及生成記錄晶圓性能的報告。該軟件還為用戶提供了全面的圖形輸出,可以定制為包括用戶自己的分析或後處理所獲得的圖形結果。CHAPMAN MP 2000+是廣泛的晶圓測試應用的理想解決方案,因為它結合了可靠性、準確性和靈活性。高分辨率CCD傳感器和強大的圖像處理能力使其成為晶圓測試中需要高度精度的應用的理想設備。此外,它的全自動階段和軟件算法提供高吞吐量和靈活性,這是經常需要的苛刻晶圓測試要求。
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