二手 E+H METROLOGY MX 203-8-37-Q #9234105 待售

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 203-8-37-Q是一種高度敏感和精確的晶圓測試和計量設備，專門設計用於半導體工藝工程。它具有堅固的設計和黑色光澤、用戶界面的顯示模塊以及帶有8個軸/傳感器以測試/測量不同參數的層靜電計系統。此外，它被設計為為廣泛的晶圓測試和計量測量提供非凡的準確性和可重復性。METROLOGY MX 203-8-37-Q能夠測試8英寸晶圓規模的集成電路。它包括復雜的軟件程序，允許用戶分析和管理各種不同的晶片、基板和二極管，以及程序特定的參數。除了測試能力外，METROLOGY E+H METROLOGY MX 203-8-37-Q還提供一系列強大的校準、診斷和分析功能。它有一個多軸反饋單元，校準分辨率為1000 A/D步長。這樣可確保各種不同測量的最佳準確性和可重復性。METROLOGY MX 203-8-37-Q旨在滿足半導體行業的嚴格要求。它采用耐用、無反射的鋁制機身，保護敏感部件免受環境影響。它還能夠處理25°C至80°C的溫度變化，以及變化的振動水平。此外,為了確保最大程度的安全和保護,它還配備了多種內置安全系統,如滅火裝置和電磁幹擾濾波器,以限制EMC輻射。總體而言，E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 203-8-37-Q是一種高效、精確、可靠的晶圓測試和計量機器，旨在提供可靠的結果。其堅固的結構、內置的安全系統和一系列多用途的功能使其成為各種半導體工藝工程應用的理想選擇。