二手 E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #293813904 待售

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q是一種先進的非接觸式3 D計量系統,非常適合晶圓測試和計量。它是一種超高分辨率的3D計量儀器，利用激光掃描共焦技術提供高度精確的結果。該儀器設計用於測量納米範圍內結構和表面的特征，其精度非常高。E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q結合了硬件和軟件,能夠以極高的分辨率掃描整個曲面。儀器能夠測量厚度、表面輪廓和粗糙度，以及高分辨率的單點測量。它還可以檢測夾雜物和毛孔等不規則現象，以及以極高的精度和精確度測量晶圓圖樣上的圖樣。E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q有多個定位裝置。其中包括在掃描頭下方的電動X軸、用於掃描500 mm的Y級以及能夠掃描高於Y級的大型結構的Z級。再者，該儀器具有光學變焦鏡頭和高分辨率視頻顯微鏡，使其能夠以極高的精度掃描非常詳細的特征。此外,E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q具有自動聚焦功能,可確保在任何深度進行可靠和穩定的測量。該儀器還提供高度用戶友好的軟件，使用戶能夠根據自己的需要快速、輕松地設置和定制系統。此外,該軟件還提供強大的分析功能,允許用戶獲取有關曲面和結構條件的詳細信息。總體而言，E+H計量E+H計量MX 204-8-37-Q是晶圓和其他非常小的復雜結構和曲面的非接觸3D計量的絕佳選擇。其高分辨率掃描功能，加上自動化聚焦功能和強大的軟件，使其成為晶圓測試和計量的最佳選擇之一。