二手 E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #9234107 待售

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q是一種先進的晶圓測試和計量設備，用於大型晶圓的檢驗和表征。該平臺使用戶能夠快速、準確地檢測和分析晶圓上的缺陷或汙染物以及底層接口的屬性。該系統包括內置光學顯微鏡和集成的超簡潔測量技術，允許各種晶圓尺寸的精確測量。光學單元采用自動對焦機和自動校準，可實現準確可靠的讀數。它還可以測量高達100倍的放大倍率，使其適用於所有類型的晶片。數據是通過數據采集模塊收集的，該模塊可以與機器視覺系統、計量解決方案和數字成像系統等多種設備連接。測量技術提供精確的結果，圓度精度為0.02 µm，定位精度為0.2 µm。此外,此工具還可以處理任意大小的多個樣品,包括尺寸可達300 mm的晶片,從而能夠精確測量和分析最小的晶片。MX 204-8-37-Q包括用戶友好的界面和易於收集數據的直觀資產。通過GUI，用戶可以監控數據收集過程，調整參數。它與幾乎所有的計算機系統兼容，包括Windows、Mac OS X和Linux。該型號還支持USB和以太網連接，使用戶可以輕松地與儀器和網絡上的其他儀器進行通信。E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q的強大性能和快速分析能力使其成為任何晶圓測試和計量環境的理想選擇。該設備易於集成到現有的測量網絡中，並為可靠的晶圓級測量和表征提供可靠的數據。