二手 E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #9234109 待售

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q是一種全自動和獨立的晶片測試和計量設備,用於快速分析晶片和其他基材。這一創新系統利用專門的硬件和軟件來測量晶片基板的地形、厚度、蝕刻深度、電學特性和其他特性，具有無與倫比的準確性和可重復性。該單元由多軸龍門機組成，該機支持針對各種晶圓材料和應用而量身定制的一系列測量工具。壓力和溫度控制的氣櫃提供了一個穩定和熱控制的測試環境，確保多種測量的準確性和可重復性不受環境條件的影響。該工具可以使用光學剖面儀、幹涉儀和電氣檢查系統等工具陣列執行自動特征識別（AFR）和其他高級測量。AFR基於數字成像和算法自動檢測表面特征的變化，可測量包括表面粗糙度、蝕刻深度、厚度和各種電性能在內的50多個參數。軟件包能夠處理從測量前設置到處理後和報告的整個測量過程。它可以自動從多個工具獲取、存儲和處理數據,並分析數據以檢測趨勢。這樣就可以快速識別生產問題,從而無需繁瑣的手動審查和分析。該資產及其軟件的人體工程學設計使設置、操作和維護變得快速、容易。電機驅動的晶圓處理模型還能夠對每小時約500個晶圓進行快速測量。E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q是需要高精度、可重復性能進行測試的半導體器件制造商的理想解決方案。它也具有成本效益，使得它對任何生產環境都是巨大的投資。