二手 E+H METROLOGY MX203 #9227878 待售

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX203是一種最先進的晶圓測試和計量設備,旨在提供快速準確的晶圓測量。它利用獨特的光學和物理技術組合，在無損過程中獲得晶圓厚度、曲率半徑、傾斜和其他特性的精確測量。該系統采用了一種專有設計，其中包括一個兩軸電動測角儀（作為定位晶圓的一種手段）和一個光學傳感器（用於捕獲和記錄測量結果）。光學傳感器由一對垂直和水平激光器組成，測量晶圓的高度輪廓和曲率。這提供了一種無損、準確和可重復的方法來測量晶圓的形狀和地形。為確保測量的準確性，該單元配備了使用參考樣本的內置校準程序。這允許精確的測量結果，無論環境條件如何。E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 203還有一個功能強大的內置計量軟件，處理光學傳感器捕獲的數據，並對結果進行實時分析和圖形表示。這允許用戶以受控和互動的方式監控晶片的特性。此外，E+H計量MX203配有電動真空樣品支架，有助於在測量過程中固定晶片，避免錯位，確保結果的最高精度和可靠性。機器還包含內置功能,可幫助減少測量所需的時間,並提供快速設置過程。總體而言，E+H METROLOGY MX 203是一種先進的晶圓測試和計量工具，提供精確、無損和可重復的晶圓特性測量。它是一個功能強大的計量軟件，集成真空樣品支架和校準程序，使用戶能夠快速準確地測量晶圓的參數。