二手 E+H METROLOGY MX608 #293659180 待售

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX608是專門為晶圓測試和計量設計的單元。該裝置采用直接成像技術，激光照射需要測試的區域。然後由CCD相機處理圖像，允許操作員分析結果。MX608具有多種特性，非常適合晶圓計量。它具有高分辨率的照相機和光學設備，可以進行精確的測量和分析。單位還可以測量厚度、經度、平坦度等各種特征。此外,該單元還能夠測量晶片的表面光潔度以及任何缺陷。E+H METROLOGY MX608是晶圓計量的有力工具。它有一個自動化的采集和分析系統，使它能夠快速分析和處理數據。該單元可編程為檢測、測量和報告廣泛的表面質量和缺陷。此外，該單元還能夠生成詳細的報告，從而對晶圓進行全面分析。MX608也有能力在遠處或接觸時測量。這為分析晶圓數據提供了最佳的靈活性和準確性。此外,該單元還能夠與任何外部系統進行接口,以進行進一步分析和數據處理。該裝置也是為最高效率和生產力而設計的。它可以使用易於使用的觸摸屏界面操作，使操作員能夠快速準確地設置設備並管理任何處理作業。擴展的自動化機器允許對作業進行進一步的自動化或遠程控制。綜上所述，E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX608是專門為晶圓測試和計量設計的強大而高效的單元。它具有高分辨率光學、自動采集和分析、自動化作業管理以及與外部系統接口的能力等多種功能。此外，它在測量晶片時提供了最大的靈活性和效率。總的來說，這個單元是任何晶圓計量應用的有力工具。