二手 FEI 300 #9386526 待售

FEI 300
製造商
FEI
模型
300
ID: 9386526
Defect analyzer, 12".
FEI 300是由全球領先的電子顯微鏡和光刻設備創新者之一FEI公司制造的晶圓測試和計量設備。該系統是公司的頂級計量單元,旨在對納米尺度晶圓樣品的物理和電氣特性進行精確測量。該機配備在介電、半導體和磁性材料上執行廣泛的測試程序和分析過程。300提供了完整的計量技術,包括高分辨率的電氣測量、樣品的物理/化學分析、掃描和成像能力以及各種其他過程。它具有強大的5軸級,能夠在1納米精度內精確定位樣品。舞臺還具有傾斜補償功能,允許它自由移動而不改變樣品的方向。該工具配備了廣泛的成像工具,如光學顯微鏡、電子顯微鏡、X射線衍射顯微鏡等。這些使用戶能夠非常詳細地研究樣品的物理結構。FEI 300還能夠生成樣品表面的精確地形圖,即使在納米水平。該資產還包括一個功能強大的軟件套件,它允許用戶對他們的樣本進行非常詳細的分析。此套件包括許多模板和向導,使用戶能夠準確測量樣品中的各種參數,從表面粗糙度和薄膜厚度到電氣特性。該軟件還包括大量的資料庫,使用戶能夠比較和對比樣本以及比較結果。300是一種非常強大的工具,可用於精確測量和分析各種材料。該模型強大的儀器和強大的軟件功能使其成為科學家和工程師以前所未有的精確度和精確度來測量和分析晶圓樣品特性的寶貴工具。這使得它成為任何現代實驗室或工程師武器庫的重要工具。
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