二手 FEI DA300 #9257394 待售

FEI DA300是一種高性能晶圓測試和計量設備,它利用集成技術提高效率、準確性和生產率,同時降低成本和周期時間。該系統旨在使用其先進的傳感器、分析儀和檢查系統來測試300毫米晶圓。憑借其精確的光學器件,DA300可在各種晶圓和設備類型中提供準確且可重復的結果。FEI DA300使用集成光學檢測單元檢測晶圓表面的各種異常，如微管、異常、粒子和過程異常。它還可以識別材料成分、層成分和薄膜厚度。此外,它還可以檢測潛在缺陷和隱藏的過程缺陷.DA300具有高分辨率成像能力，可以區分不同類型的晶圓特性和缺陷。除了光學檢查外，FEI DA300還有許多其他工具用於晶圓測試和計量。它的非接觸電阻率和電容測量使電氣和射頻裝置的參數準確。其廣角散射測繪機測量微電子結構的納米級臨界尺寸和剖面以及塗層的形成和圖樣特征。它的光學和電氣分析儀可以對設備特征進行深入分析，並可以利用常規顯微鏡技術檢測到可能難以檢測到的缺陷。DA300旨在為用戶提供一整套功能和特性。它的自動化測試程序減少了執行檢查所需的時間和工作量,使其成為高效、經濟高效的晶圓測試和計量的理想工具。此外,它還支持各種接口和自動化要求,使其與各種數據格式兼容。以及為用戶提供數據豐富的報告和屏幕診斷,以便對流程進行詳細分析和優化。FEI DA300晶片測試和計量工具是一種先進、快速、可靠的晶片測試解決方案。它是一種用途廣泛、功能豐富的資產,它結合了一套傳感器、分析儀和檢查技術,能夠進行高效、準確的晶圓測試。它能夠在一系列設備上提供詳細數據,是各種設備類型的應用程序的理想工具。