二手 FILMETRICS F20-UV #293592882 待售

FILMETRICS F20-UV晶圓測試和計量設備具有光學成像、計量和晶圓級表征功能的獨特組合。該系統設計用於半導體晶片上薄膜的高通量、自動化測試和計量，用於器件表征或工藝開發。它能夠測量各種格式的半導體晶片上薄膜的亞微米、微米和納米厚度變化，以及任意圖案大小、形狀和不透明的掩模。FILMETRICS F 20 UV包括一個配置有專有的非幹涉光譜反射儀和成像機的波長可調諧激光單元，可以快速測量不透明膜結構的厚度。這種反射計和成像工具可以在可見光譜和紫外線光譜範圍內工作,提供適合各種程序的靈活解決方案。此外，資產采用高功率、高分辨率成像技術檢測低采樣頻率，產生缺陷信息。該模型還包括一個計算機軟件包，這是一個易於使用的界面，非常適合快速高效地分析晶圓數據。此軟件包旨在提供直觀的數據圖形表示,使用戶能夠監視、比較和突出感興趣的功能。該軟件還具有2D和3D圖形功能,可提供高級數據分析和可視化。在性能方面,F20-UV可提供高分辨率、快速的測量速率,以及各種晶圓類型的薄膜厚度和粗糙度的可重復性。其準確性和易用性使其成為設備表征和工藝開發的理想選擇。該設備也適合惡劣的環境操作，適合廣泛的應用。總體而言，F 20紫外線晶片測試和計量系統是一個先進和可靠的單元，旨在促進半導體晶片上薄膜的高通量、自動化測試和計量。該工具結合了波長可調諧激光機器、成像技術和用戶友好軟件，提供了一個全面的解決方案，便於對晶圓上的薄膜厚度和粗糙度進行精確和可重復的測量。