二手 FILMETRICS F20 #293793248 待售
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ID: 293793248
Thickness measurement system
M/N: 205-0121
Thickness range: 15 nm to 70 m
Wavelength range: 380 to 1050 nm
No microscope.
FILMETRICS F20是為提高晶圓測試過程的準確性和速度而開發的集成晶圓測試和計量設備。它是廣泛的晶圓測試應用的理想解決方案,包括半導體、MEMS和光學行業的應用。FILMETRICS F 20的核心是其強大而直觀的光學剖面儀和成像系統。它具有獲得專利的光提取技術,能夠以微秒精度進行獨特的觀測。除了收集尺寸測量和表面粗糙度外,該單元還可以在多個軸上捕獲整個晶圓或單個模具的圖像。利用先進的分析軟件算法增強捕獲的圖像。更重要的是,F20的光學剖面儀可以檢測晶片中物質層的存在,分辨率高達20nm。這使得檢測晶圓表面微小缺陷的準確性達到前所未有的水平。此外,該機利用新設計的200毫米級快速完成非接觸參數測量和自動掃描過程。這增強了生產輸出,使用戶能夠比以前認為的更快地診斷和優化其產品。F 20強大的作業編程軟件簡化了晶圓編程和實施測試的過程。該工具也是高度可配置的,可以編程為掃描廣泛的晶圓測試,如應力測試、反射率測試等等。此外,它還被設計為盡量減少塵埃和其他異物等環境影響,以及振動效應。總體而言,FILMETRICS F 20提供了一個強大且易於使用的集成晶圓測試和計量資產,能夠在各種測試和應用中提供準確、快速和可靠的結果。其獨特的特性和卓越的性能使其成為任何測試和計量需求的理想選擇。
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