二手 FILMETRICS F20 #9316076 待售

FILMETRICS F 20高速、高精度晶圓測試和計量系統提供了一套全面的測試,能夠在廣泛的應用中進行精確的測量。FILMETRICS F 20利用高頻共聚焦成像精確測量材料的三維物理性質，使得能夠對薄膜厚度、組成和其他光學參數等應用進行精確分析。先進的軟硬件組合使得從半導體晶片到潔凈室光學器件，對任何樣品表面上的多個區域進行快速測量，可以快速準確地進行分析。F20采用功能強大的高速成像掃描儀模塊,該模塊針對速度、精度和準確性進行了優化。其3D功能為步高和傾斜角的測量提供了定量的映射級精度。F 20的高精度，加上其業界領先的掃描速度，使其成為實時過程控制的理想選擇，允許對任何過程步驟進行極精確的分析。FILMETRICS F20的高分辨率、三維地形圖是通過組合高分辨率垂直圖像和每個樣本區域的低分辨率橫向圖像創建的。軟件不斷比較整個掃描過程中收集的數據點,並提供反饋,用於相應調整參數,以便在與標準值進行比較時保持最佳設置。同時,還會自動提取和突出顯示階梯和邊緣輪廓等線性特征,從而提供在像素級別上直觀且快速查看的曲面表示。除了Imaging Scanner模塊外，FILMETRICS F 20還配備了功能強大的Integrated Measurement Platform，由Optics&Fluorescence Analyzer、Advanced Spectrophotometer和Image Analys＆Calibration模塊等其他幾個模塊組成。除了提供廣泛的樣品測試功能外，Advanced Spectrophotometer還為電致發光、OLED表征和CdSe/ZnO薄膜測量等應用提供了強大的數據分析。該系統還配備了高度精確的校準力學，使其能夠在任何環境中運行，從潔凈室到實驗室。F20是一種支持晶圓測試和計量技術,它徹底改變了整個行業。憑借強大的硬件和直觀的軟件,系統提供了前所未有的性能和準確性。