二手 FORMULA HF3 #9101877 待售

FORMUL HF3是來自Nanometrics的集成晶圓測試和計量設備，設計用於量化半導體晶圓、模具和電阻結構的電氣、材料和表面特性。該系統提供了用於分析、監視和優化產品開發、過程控制以及產量分析的高級功能。HF3將光學和電容掃描與測試和計量算法相結合，以測量廣泛的參數，包括氧化、薄膜厚度、晶格間距、晶粒結構、摻雜濃度等等。這項先進的技術可以檢測到物理屬性的非常小的變化,從而能夠快速可靠地評估過程和產品性能。該單元的測量非常精確,在8個樣本模板中的行業領先精度為0.3nm。它還提供了各種測試單元和探測器,使用戶能夠為作業選擇最佳工具。機器的高級自動化功能和直觀的用戶界面有助於最小化設置和容易出錯的過程,從而實現可靠和高效的測試。該工具還具有強大的可視化和數據管理工具,為導入、可視化和比較數據提供了一個中心點。這一先進軟件還有助於報告和分析各種技術的測量數據,包括霍爾效應、蝕刻速率、增長率、固有屬性分析等。FORMULA HF3是尋求高性能和可靠的晶圓和半導體生產測試和計量解決方案的客戶的理想解決方案。它的後盾是經驗豐富的支持團隊,後盾是持久保修,輕松維護其作為業界最值得信賴的系統之一的聲譽。該資產旨在在晶片、封裝和設備上提供快速、準確和可靠的結果,從而確保高產量和優化生產。