二手 FRT MicroProf 200 #9219844 待售

FRT MicroProf 200為晶片提供精確、高分辨率的表面地形、紋理和其他表面特征測量。該設備采用自動XY級,具有精確的空氣軸承,以實現平穩運動。隨附的高分辨率顯微鏡透鏡可確保精確測量到亞微米級，且失真最小。該系統設計用於晶圓測試和計量，允許對光掩模和晶圓表面進行精確的視覺檢查。集成軟件支持從各種視頻源和激光掃描儀獲取數據,並具有強大的分析和成像功能。這個單元配備了自動化的XY級，結合了四輪驅動機構以平滑移動，以及精確定位和跟蹤的精密空氣軸承。該階段被編程為自動將樣本移動到預定義的放大倍率、曝光設置等，從而無需人工幹預。它還包括一個高分辨率顯微鏡透鏡，以精確地捕捉樣品表面更精細的細節。此外,MicroProf 200還配備了功能強大的軟件包,可用於數據采集、分析和成像。數據可以從各種視頻來源獲取，包括CCD和CMOS傳感器，以及激光掃描儀。該軟件具有對多達100個通道的多通道分析功能,可快速分析數據。它還具有強大的圖像處理算法來獲得清晰準確的樣本圖像。FRT MicroProf 200能夠精確可靠地測量晶片上的表面地形、紋理和其他表面特征。該機設計用於生產環境，結構耐用，操作可靠，維護方便。其通用軟件使其成為光掩模和晶片測量和檢測的理想選擇，為晶片生產行業提供了高效、準確的解決方案。