二手 FRT MicroProf CWL300 #9173791 待售

FRT MicroProf CWL300是晶圓測試和計量的高端設備或設備。它配備了強大的成像和測量技術，使其能夠檢測到甚至最微妙的晶圓厚度、表面平坦度等特性的變化。該系統包含一臺具有5x-50 x變焦能力的光學顯微鏡，用於測量平坦度和表面特性，一臺用於測量厚度和曲率的結構化光表面剖面儀，以及用於高分辨率檢查的圖像采集單元。MicroProf CWL300提供自動層厚度計量,可精確測量晶圓層。還配備了專利自動對焦親筆簽名機，用於深度測量。這項技術旨在減少對手動重新聚焦的需求,並允許對晶圓層進行快速、精確的計量,將其降低到0.3微米。該工具還包括用於缺陷檢查的高分辨率圖像采集資產。這使用戶能夠快速輕松地檢查晶片是否有任何差異。該模型還提供了廣泛的特性和功能。它可以使用多種介質，包括石英、陶瓷、鋁、不銹鋼等金屬。它可以測量各種晶圓特性，包括表面平坦度、厚度、結構、表面粗糙度、晶粒尺寸和碳納米管計數。它還可以測量頻率範圍高達6 GHz的微波。FRT MicroProf CWL300設計易於設置和使用。它直觀的用戶界面和板載幫助功能使用戶使用設備變得容易。它設計為能夠執行可重復的測量並幫助消除操作員錯誤。設備還包括用於遠程訪問和數據傳輸的在線服務。這允許遠程監控和支持,從而使用戶可以輕松監控性能並根據需要進行調整。總之，MicroProf CWL300是一個功能強大、功能豐富的晶圓測試和計量系統。它設計為易於設置和使用，並提供準確、可重復的測量。FRT MicroProf CWL300具有自動層厚度計量、高分辨率成像和遠程服務功能,是尋求可靠晶圓計量的用戶的理想選擇。