二手 FRT MicroProf TTV200 #293657324 待售

ID: 293657324
優質的: 2011
Flatness measuring system Wafer testing and metrology (2) Chromatic sensors FRT CWL 600 pm XY Stage: 250 x 200 mm² Sensor coarse approach Motorized linear axis Video view Granite base plate Computer and electronics unit Operating manual 2011 vintage.
FRT MicroProf TTV200是FRT GmbH為在線和工程目的開發的晶圓測試和計量設備。該系統具有4-6軸晶片級,可進行全測試,提供自動光學、地形、電氣和統計過程控制。與一系列樣品類型兼容,設備的單面測試頭允許同時在晶片的正面和背面進行測量。該機器的計量核心由一個線形掃描幹涉儀(LSI)和三軸視覺傳感器提供動力,這兩個傳感器都利用了Fizeau幹擾,並在微米範圍內提供檢查。即使是結構嚴密的晶片也可以用這個工具來測量,這要歸功於它的配置。此外,該資產的電氣測試功能得到了帶有UHT(超高吞吐量)的微小4x4 mm探針卡的補充,並提供了無與倫比的測試精度。MicroProf TTV200通過其圖像處理單元和開放式應用程序編程接口(API)提供卓越的性能。該型號的開放式API是定制應用的強大工具,為設備的進一步開發提供了巨大的潛力。其10千兆位以太網圖像流接口和Gigalink Flux流接口可實現最大的圖像捕獲速度,確保快速測試和幹凈的數據傳輸。該系統還為定制的應用需求提供優化的晶圓映射。這一特性利用了機動化晶片級和RPC(旋轉路徑校正)算法。該單元能夠測量80-200 μ m的線條,其高分辨率圖像捕獲功能使其非常適合測量接縫和其他可見特征。最後,FRT MicroProf TTV200是一個全面的軟件包,具有許多其他功能。該機器為車道間比較和統計以及流程優化和開發提供支持。憑借簡單直觀的用戶界面,該工具易於設置和使用,確保了晶圓測試和計量的最大生產力。
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