二手 FRT MicroProf #9394687 待售

FRT MicroProf是一種高精度晶圓計量和測試設備,旨在測量和評估與高級材料相關的各種晶圓參數和參數。它具有全方位的分析系統，提供亞微米精度的晶圓測量，以滿足復雜的測試和驗證操作的需要。MicroProf系統以FRT先進成像技術為基礎，在厚度、粗糙度和現有缺陷等晶圓參數的測量上實現亞微米精度。它能夠在一系列不同的基板材料上成像參數，包括半導體晶片、平板顯示器、光掩模和醫療設備基板。它還作為測試和開發新材料的先進平臺，為了解材料的微觀結構和物理特性提供了一個測試環境。FRT MicroProf單元可以檢測、表征和測量各種計量和缺陷參數,包括線寬、步長、功績、粒徑、缺陷大小和密度、臨界尺寸、蝕刻深度和均勻性以及叠加測量。它與用戶現有的半導體晶圓加工機高度集成，提供實時數據傳輸和映射，以及簡化多晶圓數據分析的數據挖掘軟件。MicroProf利用計算機自動化光學工具,包括圖像采集、處理和分析組件。其快速掃描功能以及自動聚焦和自動投影功能可快速提供精確的測量結果。它還具有成像、照明和軟件技術方面的最新進步，使資產能夠檢測小特征或分析來自多個晶圓的復雜數據。FRT MicroProf模型的高級軟件使用戶能夠在整個晶圓表面執行晶圓映射。它在同步過程中測量多個晶片的能力最小化了晶片之間的參考不對齊，使其效率很高。MicroProf設備還支持遠程處理,為晶圓處理和吞吐量提供了出色的靈活性。最後，系統利用樣品獨特的光學特性，進一步提高測量精度和可靠性。高精度測量和優化成像可以準確解釋測量的參數。而且，成本效益高的設計使得FRT MicroProf成為市場上領先的晶圓計量和測試解決方案之一。