二手 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C #9191116 待售
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單擊可縮放
ID: 9191116
優質的: 2002
Film stress measurement system
Wafer bow
Dual ASYST FOUP loaders, 12"
2D & 3D Wafer mapping
Auto dual laser switching for maximum flexibility
Auto thickness measurement
Brooks robot, 017-0266-01
Controller, 002-9400-04
Pre aligner, 017-0266-01
2002 vintage.
FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C是為評估半導體測試晶片而設計的晶圓測試和計量設備。該系統在高速、可變溫度的環境中運行,允許對半導體晶圓進行全面分析。FSM 128L C2C在整個測量過程中提供了晶圓溫度、濕度和大氣壓力的精確控制,確保了準確的結果。FRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2C由3個主要組件組成-晶圓測試階段、測量階段以及電機和控制單元。晶片測試階段支持各種樣品形狀、尺寸和材料,並且能夠測試直徑最大為128mm的晶片。測量級配備了光學和電傳感能力,以精確測量電阻、電流、電容、橋接測試和其他電氣度量。最後,電機和控制機負責控制測試和測量階段的運行,允許進行可編程、自動化的數據采集和車載計量分析。除上述組件外,FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C還提供了改進晶圓分選和監控的一系列功能。該工具配有內置攝像頭和軟件,便於串聯晶片對準和排序。它還支持集成數據分析,為用戶提供識別和隔離測試晶片上有缺陷組件的必要工具。最後,將每個晶片自動分割為單獨測量的站點,可以實現高度準確、精確的數據報告。總體而言,FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2C是一種功能豐富、用途廣泛的測試和計量資產,旨在實現半導體測試晶片的精確測試。FSM 128LC2C具有高速、可變溫度的運行以及可靠的數據報告和分析工具,是確保半導體生產一致可靠的理想模型。
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