二手 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 #293822788 待售

來自FSM的FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128是一種晶圓測試和計量設備，設計用於提供晶圓和模具的精確計量。晶圓測試和計量系統，如FSM 128，用於精確測量芯片級集成電路（IC）的電氣、光學和物理特性。FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM-128配備了采用傳統邊緣檢測和插值的先進檢測引擎，以及用於發現缺陷的最新設計和分析技術。該單元利用先進的幾何測量工具來識別芯片中偏離設計可能導致故障或屈服損失的關鍵區域。然後，它將成像技術結合起來，對這些關鍵區域進行檢查和測量。FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128采用模塊化平臺構建，允許客戶定制機器，並在晶圓測試和計量工具上選擇所需的功能。這個模塊化平臺也讓客戶在資產配置上獲得更高程度的靈活性。FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128還擁有一系列前沿圖像采集功能。有了相機舞臺，FSM FSM 128可以捕捉模具表面的全場影像。它還有一個自動化的模模圖像縫合模塊，可以自動將單獨模具的單個圖像縫合在一起，允許用戶在一個圖像中查看整個模具表面。FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM-128還具有自動缺陷檢查功能,可簡化樣品的檢查和分析。它可以檢測到一系列缺陷，包括線端、異物、劃痕和短褲。此外,FSM-128還包括多種測量功能,例如電氣測量、光學反射率、暗電流、亮度等。這些先進的傳感器允許比傳統系統更精細的測量，並提供更高的準確性和可重復性。此外，該模型可以測量電介質的厚度，允許更精確的表征IC。它還可以測量模具表面的均勻性，這對產品質量保證很重要。總體而言，來自FRONTIER SEMICONDUCTOR的128是一種先進的晶圓測試和計量設備，旨在提供晶圓和模具的精確計量。FSM FSM-128的模塊化設計、高端檢測引擎、自動缺陷檢測、高級圖像采集和測量功能,為客戶提供了滿足其晶圓測試和計量需求的全面解決方案。